- группа тестовых кристаллов ИС в полупроводниковой пластине
- puslaidininkinės plokštelės tikrinamų lustų grupė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer drop-in test chip group vok. eingefügte Testchipgruppe, f rus. группа тестовых кристаллов ИС в полупроводниковой пластине, f pranc. jeu des puces de test sur la tranche, m
Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.